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VIEW Pinnacle+ Plus好精度的尺寸测量系统

收藏 2024-11-14
  • 广东省东莞市
  • 2024-11-14 16:20:38
  • 影像;测量;仪器;
  • 详细信息
  • Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.

    好的线性马达控制技术造就了运行速度快,可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。

     

    特征:

    X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50

    X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料

    平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z

    速度:X,Y - 100 mm/sec   /   Z - 25 mm/sec

    承载量:25 kg

    光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头

    计量软件

    可选项: Elements

    可选项Measure-X

     

    可选项软件模块:

    区域多点自动ju jiao

    连续捕获图像 (CIC)

    好的图像滤光和图像拼接,自定义

    UI操作软件

    MeasureFit   Plus

     

    SmartPro?le

    3D GD&T 评估软件

    VMS 离线编程软件

    数字输入/输出Digital I/O

     

    Benchmark的应用范围包括:

    半导体/电子

    BGA, μBGA, CSP, 倒装xin片, MCM, bump-on-die

    引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

    SMT元件贴装

    锡膏/环氧数脂胶点

    xin片载体和托盒

    喷墨打印机墨盒

    光纤组件和MEMs

    数据存储

    悬置件

    滑块和悬臂组(HGA)

    磁盘介质基板

    精密注塑和机加工件

    模具和刀具

    某医某疗某设备

    燃料喷射部件

    手表组件

     

     



    公司名片
  • 联系人:张人雷
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